MSHOT偏光顯微鏡滿足不同工作環(huán)境的工藝需要
MSHOT偏光顯微鏡適合地質(zhì)勘查(區(qū)域地質(zhì)勘查、海洋地質(zhì)勘查、水文地質(zhì)勘查、工程地質(zhì)勘查、環(huán)境地質(zhì)勘查、固體礦產(chǎn)勘查、地球化學(xué)勘查)、電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察半透明或不透明的物資,如礦物、金屬陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非金屬材料,適合于地質(zhì)勘探、學(xué)校、科研部門作觀察分析用。
MSHOT偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡,在地質(zhì)學(xué)等理工科專業(yè)中有重要應(yīng)用,凡具有雙折射的物質(zhì),在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來進(jìn)行觀察,但有些則不可用,而必須利用偏光顯微鏡。MSHOT偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的*儀器,可供廣大用戶做單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察。
偏光顯微是鑒定物質(zhì)細(xì)微結(jié)構(gòu)光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡,凡具有雙折射性的物質(zhì),在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來進(jìn)行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。MSHOT偏光顯微鏡的特點(diǎn),就是將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射性(各向同性)或雙折射性(各向異性)。
雙折射性是晶體的基本特征。因此,MSHOT偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域。在生物學(xué)中,很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性,這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分。MSHOT偏光顯微鏡用于研究透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。偏光顯微鏡將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢,以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,MSHOT偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域,在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。